Für die physikalische Charakterisierung von Partikeln bietet Microtrac eine breite Auswahl an optischen Analysegeräten. Microtrac ist weltweit der einzige Anbieter, der Geräte für die dynamische Bildanalyse, statische Bildanalyse, Laserbeugung und Siebanalyse im Programm hat und über umfangreiches Know-how im Vergleich der Stärken und Schwächen jedes Verfahrens verfügt.
| Dynamische Bildanalyse (DIA) |
Statische Bildanalyse |
Siebanalyse (Retsch) |
Laserlicht- streuung |
Dynamische Lichtstreuung (DLS) |
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| Großer Dynamischer Messbereich |  |
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| Reproduzierbarkeit und Wiederholbarkeit | |
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| Hohe Auflösung für schmale Verteilungen | |
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| Analyse der Partikelform | |
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| Direktes Messverfahren | |
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| Sichere Detektion von Überkorn | |
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| Robuste Hardware, einfache Bedienung |
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| Analyse einzelner Partikel | |
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| Hohe Messgeschwindigkeit, kurze Messzeiten |
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| Analyse von Nanopartikeln | |
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| Analyse des Zeta-Potenzials und Molekulargewichts |
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| Einsatzflexibilität | |
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| Messbereich | 0.8 µm - 135 mm | 0.5 µm – 1.5 mm | 10 µm - 125 mm | 10 nm – 5 mm | 0.8 nm - 6500 nm |
