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Nanopartikelgrößen-Analysator NANOTRAC WAVE II

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Der NANOTRAC Wave II / Zeta von Microtrac ist ein hochflexibles DLS-Analysegerät (Dynamic Light Scattering), das Informationen über Partikelgröße, Zetapotenzial, Konzentration und Molekulargewicht liefert. Er ermöglicht schnelle Messungen dank zuverlässiger Technologie, höherer Präzision und besserer Genauigkeit. All dies kombiniert in einem kompakten DLS-Analysator mit einer revolutionären, feststehenden optischen Sonde.

Durch das einzigartige und flexible Sondendesign im NANOTRAC Wave II / Zeta kann der Anwender mittels Laser Amplified Detection-Methode aus einer Vielzahl von Messzellen wählen und den Anforderungen jeder Anwendung gerecht werden. Das Design erlaubt ebenfalls Messungen von Proben über einen weiten Konzentrationsbereich sowie monomodaler oder multimodaler Proben – vorherige Kenntnisse der Partikelgrößenverteilung sind nicht erforderlich. Ermöglicht wird dies durch die Verwendung der Frequenz-Powerspektrum-Methode (FPS) anstelle der klassischen Photonenkorrelationsspektroskopie (PCS).

Nanopartikelgrößen-Analysator NANOTRAC WAVE II / ZETA Ideal für die Analyse von Nanopartikeln und Zeta-Potential

Funktionsprinzip

Nanopartikelgrößen-Analysator NANOTRAC WAVE II / ZETA Typische Applikationen

Vielseitigkeit ist eine große Stärke der dynamischen Lichtstreuung (DLS). Dadurch eignet sich die Methode für eine Vielzahl von Anwendungen sowohl in der Forschung als auch in der Industrie, wie z. B. Pharmazeutika, Kolloide, Mikroemulsionen, Polymere, Industriemineralien, Druckfarben und viele mehr.

pharmazeutische Produkte

Pharmazeutika

  • Pharmazeutika
  • Tinte
  • Life Sciences
  • Keramik
  • Getränke & Lebensmittel
 Emulsionen

Emulsionen

  • Kolloide
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  • Mikroemulsionen
  • Kosmetika
  • Chemikalien
Stahl

Stahl

  • Umwelt
  • Klebstoffe
  • Metalle
  • Industriemineralien

    ... und viele mehr!

Intuitive Nutzung mit wenigen Klicks DIMENSIONS LS für NANOTRAC-Serie

Die DIMENSIONS LS-Software bietet fünf übersichtliche Arbeitsbereiche (Workspaces) zur einfachen Methodenentwicklung und Steuerung des NANOTRAC-Instruments. Ergebnisdarstellung sowie Auswertung mehrerer Analysen sind in den entsprechenden Arbeitsbereichen auch während laufender Messungen problemlos möglich.

  • Einfache Methodenerstellung
  • Übersichtliche Ergebnispräsentation
  • Vielfältige Auswertemöglichkeiten
  • Intuitiver Workflow
  • Umfangreicher Datenexport
  • Multi-User-Software
.

Wiss. Referenzen

Unsere Geräte sind in Wissenschaft und Forschung als Referenz für eine breite Palette von Anwendungsbereichen anerkannt. Dies spiegelt sich in den zahlreichen Nennungen in wissenschaftlichen Veröffentlichungen wider. Sie können die unten aufgeführten Artikel gerne herunterladen und teilen.

Nanopartikelgrößen-Analysator NANOTRAC WAVE II / ZETA Technische Daten

MethodeDynamische Lichtstreuung mit Laser-verstärktem Signal in Rückstreuung
BerechnungsmodellFFT-Powerspektrum
Messwinkel180°
Messbereich0,3 nm - 10 µm
ProbenzelleVerschiedene Probenzellenoptionen
Analyse des Zeta-PotentialsJa
Zeta-Messbereich (Ladung)-200 mV - +200 mV
Zeta-Messbereich (Größe)10 nm - 20 µm
Elektrophoretische Mobilität0 - 15 (µm/s) / (V/cm)
LeitfähigkeitsmessungJa
Leitfähigkeitsmessbereich0 - 10 mS / cm
Messung des MolekulargewichtsJa
Messbereich des Molekulargewichts<300 Da -> 20 x 10^6 Da
Temperaturbereich+4°C - +90°C
Temperaturgenauigkeit± 0,1°C
TemperaturregelungJa
Temperaturbereich+4°C - +90°C
TitrationJa
Reproduzierbarkeit (Größe)=< 1%
Reproduzierbarkeit (Zeta)+ / - 3%
Probenvolumen (Größe)50 µl - 3 ml
Probenvolumen (Zeta)150 µl - 2 ml
KonzentrationsmessungJa
Probenkonzentrationbis zu 40 % (Probenabhängig)
LösungsmittelWasser, polare & unpolare organische Lösungsmittel, Säuren & Basen
Laser780 nm, 3 mW; 2 x Laserdioden mit Zeta
Luftfeuchtigkeit90 % nicht kondensierend
Abmessungen (B x H x T)355 x 381 x 330 mm

Die optische Bank des NANOTRAC WAVE II ist eine Sonde, die einen faseroptischen Adapter mit einem Y-Teiler enthält. Das Laserlicht wird auf ein Probenvolumen nahe der Grenzfläche zwischen der Sonde und der Dispersion fokussiert. Das Saphirglas an der Spitze der Sonde reflektiert einen Teil des Laserstrahls zurück zu einem Photodiodendetektor. Das Laserlicht durchdringt auch die Dispersion und das Streulicht der Partikel wird um 180° zurück zum selben Detektor gestreut.

Das Streulicht der Probe hat ein geringeres optisches Signal im Vergleich zum reflektierten Laserstrahl. Der reflektierte Laserstrahl mischt sich mit dem Streulicht der Probe und addiert die große Amplitude des Laserstrahls zu der kleinen Amplitude des Streusignals. Diese laserverstärkte Detektionsmethode bietet ein bis zu 106-fach besseres Signal-zu-Rausch-Verhältnis als andere DLS-Methoden wie die Photonenkorrelationsspektroskopie (PCS) oder das Nanoparticle Tracking (NT).

Eine schnelle Fourier-Transformation des durch den reflektierten Laser verstärkten Signals ergibt ein lineares Frequenz-Powerspektrum. Durch Logarithmieren und Dekonvolution erhält man die resultierende Partikelgrößenverteilung. So ist eine robuste Analyse von sowohl eng und breit verteilten, als auch monomodalen oder multimodalen Proben möglich. Es werden keine zusätzlichen Informationen für die Anpassung des Algorithmus benötigt, wie es bei der PCS der Fall ist.

Unsere laserverstärkte Detektionsmethode ist unbeeinflusst von Signalverfälschungen aufgrund von Verunreinigungen in der Probe. Bei klassischen PCS Geräten muss die Probe entweder vor der Messung aufwändig vorbereitet und filtriert werden, oder es sind komplizierte Korrekturen nötig, um Signalabweichungen zu eliminieren.

Einführung in die Dynamische Lichtstreuung (DLS) - Funktionsprinzip

1. Detektor|  2. Reflektierter Laser & Streulicht | 3. Saphirglas |  4. Y-Beam-Splitter |  5. GRIN-Linse |  6. Probe |  7. Laserstrahl in optischer Faser |  8. Laser

Iterative Partikelgrößenberechnung mittels Leistungsspektrum

1. Größenverteilung abschätzen | 2. Berechnen der geschätzten Partikelgröße | 3. Berechnen des Fehlers der Partikelgröße | 4. Geschätzte Verteilung korrigieren | 5. Wiederholen der Punkte 1-4 bis der Fehler minimiert ist | 6. Minimale Fehlerverteilung mit bester Anpassung

Technische Änderungen und Irrtümer vorbehalten